Довольно любопытный сегодня день. На восстановление данных поступило две флешки одного производителя – Silicon Power. И обе монолитные. Будем доставать данные через технологические контакты, до которых можно добраться, только убрав лак на оборотной стороне карты памяти.
Что такое монолитная флешка? В стандартом виде флеш-карта – это небольшая печатная плата, на которой распаяны: интерфейсный разъем, контроллер, чип или несколько чипов NAND-памяти, кварцевый генератор и вспомогательные элементы. Это все можно пощупать мультиметром, выпаять, замерить. В монолитном исполнении все эти электронные компоненты спрятаны под слоем компаунда, и флеш-карта внешне представляет собой монолитный кусок пластика (почему и называется – «монолит»). Естественно, когда из куска пластика наружу торчат только интерфейсные контакты, доступа ни к контроллеру, ни к NAND-микросхеме, ни к другим элементам устройства нет. Это все негативно сказывается на возможности ремонта, так как заменить сгоревшие предохранительные резисторы или «просевший» кварц физически невозможно. Поэтому – только чистить лак, искать назначение технологических контактов и считывать информацию через них.
Кстати, найти технологические контакты и получить доступ к NAND – еще полдела. Нужно еще определить, какой в карте памяти стоит контроллер – без этого знания дамп NAND-микросхемы практически бесполезен, ведь надо знать, как извлечь из него данные. Для этих целей используется логический анализатор и глубокое знание спецификации ONFI (не протокола, не интерфейса, как обычно говорят очень далекие от профессионализма в области восстановления данных люди, а именно спецификации).
В компании IT-Doctor мы готовы восстановить данные с большинства монолитных карт памяти. В случае физического повреждения карты (если карта переломлена) мы выполним ее исследование и определим, возможно ли восстановление в принципе. Для этого мы используем физико-химические методы, которые, в отличие от широко распространенного заблуждения об использовании рентгеноскопии, не уничтожают данные. Использование рентгеноскопии сопряжено с довольно серьезным риском: ионизированные излучения могут повреждать данные, хранящиеся в ячейках памяти NAND-микросхем, что неоднократно показывалось серьезными исследованиями (например: Effects of x-ray exposure on NOR and NAND flash memories during high-resolution 2D and 3D x-ray inspection, Impact of X-Ray Exposure on a Triple-Level-Cell NAND Flash, и т.д. Мы не используем в своей работе потенциально опасные методы, которые могут привести к потере данных – тем более, что имеются общефизические и химические методики, позволяющие производить первоначальную оценку возможности восстановления данных с физически поврежденных карт памяти абсолютно безопасно для информации.
Флешки Slicon Power, с которыми нам предстоит работать сегодня, не слишкoм сложны: диагностические контакты, можно сказать, на виду, между слоями ничего не спрятано, а расположение и назначение технологических контактов давно известно.
Станислав Корб, ©2018
